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ICP-OES電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

更新時(shí)間:2023-11-15      點(diǎn)擊次數(shù):2295

  ICP-OES電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是一種常用的光譜分析技術(shù),用于同時(shí)測定多種元素的含量和組成。它基于等離子體激發(fā)樣品中的原子和離子,然后通過光譜儀器檢測其輻射光譜。

  ICP-OES特點(diǎn):

  多元素分析:儀器能夠同時(shí)分析多種元素,從低至超痕量級別。

  高靈敏度:它對許多元素具有很高的靈敏度,通常在ppb(百億分之一)至ppm(百萬分之一)范圍內(nèi)。

  寬線性范圍:它在廣泛的濃度范圍內(nèi)具有良好的線性響應(yīng)。

  高分辨率:它能夠提供很高的光譜分辨率,以區(qū)分不同的元素光譜線。

  高速分析:它能夠快速進(jìn)行多樣品的分析,每小時(shí)可分析數(shù)十個(gè)樣品。

 

  ICP-OES工作原理:

  等離子體產(chǎn)生:ICP-OES使用感應(yīng)耦合等離子體(Inductively Coupled Plasma,ICP)來產(chǎn)生高溫、高能量的等離子體。通過引入氬氣并在高頻電磁場中激發(fā),形成一個(gè)穩(wěn)定的等離子體。

  樣品處理與噴霧:待測樣品經(jīng)過適當(dāng)?shù)那疤幚?如溶解、稀釋等),然后通過噴霧裝置進(jìn)入等離子體中。在等離子體中,樣品中的原子和離子受到高溫等離子體的激發(fā),產(chǎn)生光譜輻射。

  光譜分析:ICP-OES使用光譜儀器來檢測等離子體發(fā)出的輻射。光譜儀器通過光柵或干涉儀將輻射光分散成光譜,然后通過探測器逐個(gè)測量不同波長的輻射強(qiáng)度。這樣可以識別和定量分析樣品中的各種元素。

  數(shù)據(jù)處理與定量分析:ICP-OES通過與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行比對,利用內(nèi)標(biāo)校正和外標(biāo)校正等方法,將樣品中不同元素的輻射光信號轉(zhuǎn)化為含量結(jié)果。

  ICP-OES電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀在許多領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用,如環(huán)境監(jiān)測、食品安全、藥物分析、地質(zhì)研究、金屬材料分析等。它能夠提供準(zhǔn)確、快速和可靠的多元素分析結(jié)果,對于研究和質(zhì)量控制具有重要意義。

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